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详细信息
CX3系列粗糙度轮廓仪
粗糙度轮廓仪是一种用于测量物体表面粗糙度和轮廓形状的精密仪器,广泛应用于机械加工、制造业、材料科学等领域。它能够同时评估微观表面粗糙度和宏观几何形状,帮助用户全面分析工件的表面质量与几何精度。精度高(可达纳米级),适用于大多数材料。
CX3系列粗糙度轮廓仪使用金刚石探针接触表面,探针随表面凹凸上下移动,通过传感器将位移转换为电信号。采用先进的一体化传感器,并全面优化了操作软件,使仪器测量精确,重复性稳定,使用方便。有大规格以及特殊工件检测的测量仪器供新老用户选择。
本公司积极向国际水平看齐,经努力研制开发了CX系列粗糙度轮廓仪。仪器采用天然金刚石触针及硬制合金斧形触针(可互换),电感式触头及高精度传感器,智能化程度高,测量精度高,稳定性重复性好,外形美观,打印输出使用方便,使适用于机械加工制造行业及轴承制造行业使用。并可为用户测量特殊工件而开发并为客户量身定制设计专用的软件。
我们将以优惠的价格提供优质的产品,以优良的服务来保证用户安全放心地使用我们的产品。
CX系列粗糙度轮廓仪
1. 表面粗糙度测量
- 测量微观表面凹凸不平的参数(如Ra、Rz、Rq等),评估加工表面的光滑度。
- 常见参数:
- Ra(算术平均偏差):轮廓偏离平均线的绝对值的平均值。
-Rz(*大高度差):轮廓峰顶到谷底的*大垂直距离。
- Rq(均方根粗糙度):轮廓偏差的均方根值。
2. 轮廓形状分析
- 测量宏观几何形状(如直线度、圆弧度、台阶高度、沟槽深度等)。
- 可绘制2D/3D轮廓图,分析工件的形状误差。
五、应用领域粗糙度测量 评定参数: Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp 测量范围: Ra0.01μm-10μm 触针位移: ±500μm 分 辩 率: 0.001μm 示值误差: ≤3%±5nm 轮廓测量 使用范围: X:0-160mm Z:0-550mm 测量范围: X:0-160mm Z:±6、±10、±15 分 辩 率: 0.001μm、0.1μm 半径误差: 0.1% - 0.8%
1. 机械加工:检测车削、铣削、磨削等工艺后的表面质量。
2. 汽车制造:评估发动机部件、齿轮、轴承的粗糙度。
3. 电子元件:测量半导体晶圆、光学镜片的表面平整度。
4. 航空航天:检查涡轮叶片、机身涂层的表面特性。
5. 科研与质检:材料摩擦学、涂层性能研究等。 -
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